幾種可測試性電子臺秤傳感器設計技術原理 1．Ad-hoc測試技術 特定目標可測試性設計技術（Ad-hoc）是一種早期的DFT技術，它是針對一個已經(jīng)成型的電子臺秤傳感器設計中的測試問題。這種技術的主要基本思想是：通過添加選擇器來訪問內部電路，以增強其可控性和可觀測性；添加邏輯門電路來控制內總電路以增加其可控性；在需要的地主增加觀測點。 2．掃描技術 電子臺秤傳感器中一般都包括了時序邏輯和組合邏輯兩部分。組合邏輯使現(xiàn)有測試技術能較好地測試生成；而時序邏輯電路的測試生成，由于時序電路往往很復雜，因此很難獲得足夠令人滿意的測試程序。掃描結合測試向量自動生成技術，通過將電路中難以測試的時序元件轉化為可串行輸入和輸出的可掃面單元，從而從可測試性的角度來看增加了許多可控制點和觀測點，極大地提高了整個電子臺秤傳感器的可觀測性。 3．內建自測技術（BIST） 內建自測設計技術的基本思想是不需要外產(chǎn)來施加測試向量，由電路自己生成測試向量，依靠自身來決定獲得的測試結果是否正確。這種方法通過電子臺秤傳感器內部集成少量的邏輯電路來實現(xiàn)對集成電路的測試。隨著集成度的提高，集成電路工程不再在乎BIST邏輯所占用的電路或芯片面積，因而內建自測設計技術廣泛地應用于現(xiàn)代集成電路中。這種測試方法還被認為是解決測試儀器開發(fā)周期長、費用高的有效方法之一。 |
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